2007年12月19日星期三

LP 30 Compact Laser Interferometer激光涉仪

芬诺 - 刀具及计量研究发展公司
新产品介绍


现代工业需要满足日益严格的公差以及国际质量标准的要求,因此生产设备的工作性能受到前所未有的重视。为满足这一需求,芬诺研究发展公司推出了可以评估、监控并改善机器性能的两激光干涉测量系统,从而提高了生产力,缩短了停机时间,并使废品率降至最低.



LP 30 Compact Laser Interferometer 激光涉仪代表机床及坐标测量机 (Coordinate Measuring Machines or CMM) 校准之最高水准。本系统可保持 1,5 µm/m 的线性测量精度,具有对国际标准的全面溯源性以及其他同类系统无法比拟的性能。
如果您购买了LP 30 激光干涉仪系统,意味着您不仅拥有当今业界精度最高、最具灵活性的系统,而且还将得到Feanor全球服务支持网络一个对机器计量、机器服务以及在生产环境中如何保持机器精度具有深切理解的网络,所提供的完美服务。
LP 30 激光干涉仪头采用复杂的电子线路,用于稳频、细分和干涉条纹计数。它能够在高达 1 m/s 的进给速度下提供真正的纳米分辨率测量。
激光干涉仪头组件包括:激光干涉仪头、电力电缆、数据通信电缆、校准证书
LP 30 激光干涉仪可对机床、坐标测量机及其他位置精度至关重要的系统进行全面精度评估。它能通过有针对性的维护改善机器性能,并能利用误差补偿修正线性定位误差。

激光系统新增的其他功能:
在整个环境范围中保持1,5 µm/m 的线性测量精度;芬诺 独有的激光干涉仪准直辅助镜使安装简单易行(激光干涉仪准直辅助镜); 软件可用于数据采集及数据分析;自动误差补偿软件包。
LP 30 激光测量系统所有功能都设计与软件配合使用。除了测量和分析诊断功能外,此软件包的标准配置还包括动态测量、旋转轴测量、双轴测量和电子水平仪及千分表程序接口模块。
该激光干涉仪系统由激光头LP 30、环境监测补偿器,计算机接口卡 及高精度的光学器件组成。全部器件放在一个配小车的提箱内,一人便可携带全部系统赴异地进行机器精度检定,大大改善了激光干涉仪的便携性。 该激光干涉仪系统通过接口与IBM 兼容的PC 机(包括笔记本计算机)连接,在灵活、直观的软件控制下进行自动测量,既节省了测量时间,又避免了人为误差,并能按国际上通行的标准进行数据分析处理,如PN - 93 M55580, ISO/DIS 230, PN - 93 M55580 , ISO 230-2 , NMTBA , VDI/DGQ 3441, BSI BS 4656 Part 16,以便于按不同标准进行机床精度的评定和比较。

被测量的参数 -- 线性测量范围 -- 线性测量分辨率 -- 准确率
长度的尺寸 0 - 30 m -- 0,001 µm -- 0,41 µm/m
最高测量速度 0 - 0,3 m/s -- 3 µm/s -- 0,1 %
角度的尺寸 0 - 3600 arcsec -- 0,6 arcsec -- ± 0,2 %
线性的尺寸 0 - 3 m -- 0,1 µm -- ± 1 %
表面的尺寸 0 - 3 m -- 0,15 µm m/100mm -- ± 0, 5 %


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