FEANOR 芬诺 - 刀具及测量仪研究发展有限公司

FEANOR 芬诺 - 刀具及测量仪研究发展有限公司成立于1990年,总部设在塔林（爱沙尼亚），年轻而有活力，公司在米兰（意大利）和布拉格（捷克共和国）设有办事处。
芬诺公司经过17年的发展,现在公司有四项核心业务：
1. 计量和质量控制软件:芬诺以计量应用软件和特殊刀具软件的设计起家，特别是SPC（Statistical Process Control - 统计过程控制软件）和数据获得软件和测量仪器刻度软件在市场上很有优势.现在芬诺和美国PQsystems公司在多种质量控制软件的设计上有良好的合作关 系 (DOE, MSA, R&R, CHART)。
2.特殊测量仪器:1992年，芬诺开始和德国的特殊长度测量系统公司Helios 和合作，主要在汽车制造领域。测量课题有: 曲轴杆，切刀具， 变速器和齿轮， 螺旋齿轮， 蜗杆/涡轮，滚刀，插齿刀，剃齿刀，锥齿刀，轴类连杆，凸工凸轮轴，升降曲线，未知轮廓曲线 - 径/轴向。
3.特殊切割刀具:1994年，芬诺和意大利公司UFP (特殊刀具制造公司)合作共同为汽车，航空和国防工业设计特殊切割刀具。合作主要由芬诺设计，UFP制造，优势互补，取得专利产品若干项。
4.欧盟框架研究计划:此计划为中国政府和欧盟科技合作计划，削减参与公司一半的研究和发展费用，芬诺公司期待在中国找到合适的合作伙伴，共同开发下列项目:
• 全息照相技术测量系统（OPTIGEW）
• 直升飞机平面齿轮的研磨技术和齿轮传动装置的主要技术参数测定（FACEGEAR）
• 航天工业中转矩测量装置的标定 （CALTORQUE）
• 大直径传动轴中外形参数和圆度测定（WINFORM）
如需更多信息,请登陆www.feanor.com

VIDEO http://www.mmsonline.com.cn/tv/mms/detail.jsp?id=130

激光干涉仪

激光干涉仪是以 激光波长为已知长度、利用迈克耳逊干涉系统测量位移的通用长度测量工具。激光干涉仪有单频的和双频的两种。单频的是在20世纪60年代中期出现的,最初用于检定基准线纹尺,后又用于在计量室中精密测长。双频激光干涉仪是1970年出现的，它适宜在车间中使用。激光干涉仪在极接近标准状态（温度为20℃、大气压力为101325帕、相对湿度59％、C O2 含量0.03％）下的测量精确度很高，可达1×10。 如需了解相关产品请见：http://www.feanor.com/

单频激光干涉仪 从激光器发出的光束，经扩束准直后由分光镜分为两路，并分别从固定反射镜和可动反射镜反射回来会合在分光镜上而产生干涉条纹。当可动反射镜移动时，干涉条纹的光强变化由接受器中的光电转换元件和电子线路等转换为电脉冲信号，经整形、放大后输入可逆计数器计算出总脉冲数，再由电子计算机按计算式[356- 11]式中λ为 激光波长(N 为电脉冲总数)，算出可动反射镜的位移量L。使用单频激光干涉仪时，要求周围大气处于稳定状态，各种空气湍流都会引起直流电平变化而影响测量结果。 双频激光干涉仪 在氦氖激光器上，加上一个约0.03特斯拉的轴向磁场。由于塞曼分裂效应和频率牵引效应, 激光器产生1和2两个不同频率的左旋和右旋圆偏振光。经1/4波片后成为两个互相垂直的线偏振光,再经分光镜分为两路。一路经偏振片1后成为含有频率为 f1-f2的参考光束。另一路经偏振分光镜后又分为两路：一路成为仅含有f1的光束,另一路成为仅含有f2的光束。当可动反射镜移动时,含有f2的光束经可动反射镜反射后成为含有f2 ±Δf的光束，Δf是可动反射镜移动时因多普勒效应产生的附加频率,正负号表示移动方向(多普勒效应是奥地利人C.J.多普勒提出的，即波的频率在波源或接受器运动时会产生变化)。这路光束和由固定反射镜反射回来仅含有f1的光的光束经偏振片2后会合成为f1-(f2±Δf）的测量光束。测量光束和上述参考光束经各自的光电转换元件、放大器、整形器后进入减法器相减,输出成为仅含有±Δf的电脉冲信号。经可逆计数器计数后，由电子计算机进行当量换算（乘 1/2激光波长）后即可得出可动反射镜的位移量。双频激光干涉仪是应用频率变化来测量位移的，这种位移信息载于f1和f2的频差上，对由光强变化引起的直流电平变化不敏感，所以抗干扰能力强。它常用于检定测长机、三坐标测量机、光刻机和加工中心等的坐标精度，也可用作测长机、高精度三坐标测量机等的测量系统。利用相应附件，还可进行高精度直线度测量、平面度测量和小角度测量

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